Problemas que podem surgir ao colocar o binning do testador de material ao participar do controle

Máquina de teste de materialDurante o processo de classificação, alguns problemas geralmente ocorrem na máquina de teste durante a operação de controle, o que dificulta o uso durante a operação de teste da máquina.

Atualmente, devido à diversificação de materiais, são necessários mais e mais métodos de teste e mais e mais requisitos para o método de controle da máquina de teste. Por exemplo: os materiais de polímero precisamMáquina de testePara o controle de velocidade, os materiais de construção requerem controle de carga, materiais metálicos requerem controle de carga ou deformação, componentes de construção podem exigir controle de aceleração, etc. da teoria do controle automático, se os parâmetros de qualquer link dentro de uma mudança de sistema de circuito fechado, isso fará com que o estado de trabalho de todo o sistema de circuito fechado mude, fazendo com que o sistema falhe a funcionar normalmente. Para permitir que o sistema funcione de forma estável, alguns parâmetros de controle (geralmente os parâmetros p.i.d) precisam ser ajustados no tempo. A mudança é alterar a taxa de amplificação do amplificador dentro do sistema de circuito fechado, o que inevitavelmente levará a mudanças no estado de trabalho de todo o sistema. Ou seja, depois de mudar de marcha, você deve alternar os parâmetros P.I.D para um valor adequado para a engrenagem atual. Mas o problema é que, além da posição da engrenagem, esse valor de parâmetro também está relacionado à amostra, e a amostra é sempre em mudança e diferente, portanto, sua magnitude específica não pode ser determinada com antecedência; Além disso, as flutuações de controle ocorrerão ao mudar de marcha, o que terá um impacto nos resultados do teste. No passado, como a alta A/D não estava disponível, a aquisição de dados era a principal contradição, portanto, a classificação ainda era usada em máquinas de teste de loop com vários fechamentos. Mas geralmente é dividido apenas em três níveis e é muito problemático de usar. Agora, o problema do A/D de alto nível foi resolvido e o fácil uso tornou-se um problema a ser considerado. Portanto, de um modo geral, a tecnologia não estágio é basicamente adotada em máquinas de teste de loop de vários fechamentos.

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